towar niedostępny
Kup ten produkt teraz - zapłać za niego za 30 dni
X-Rite i1Basic Pro 3 Plus
Dzięki i1Basic Pro 3 możesz szybko i z łatwością przeprowadzić kalibrację monitora oraz projektora gwarantując wierną reprodukcje barw na ekranie.
Profesjonalne Zarządzanie Barwą
X-Rite i1Basic Pro 3 Plus łączy w sobie wysokiej klasy sprzęt i oprogramowanie, zapewniając najwyższy poziom kontroli barw. Zawiera wszystkie funkcje dostępne dotychczas w i1Basic Pro 2 i wiele więcej!
- Spektrofotometr i1Pro 3. Najdokładniejsze i przyszłościowe urządzenie do profilowania dostępne obecnie na rynku – to nowy poziom dokładności, niezawodności, uniwersalności i prostoty obsługi. i1Pro 3 umożliwia pomiar wyświetlaczy o wysokiej jasności, luminancja aż 5000 nitów oraz posiada opcję polaryzacji.
- Oprogramowanie i1Profiler dla monitorów i projektorów. Najnowsza wersja oprogramowania i1Profiler dostarcza podstawowe i zaawansowane tryby pracy, dla osiągnięcia profesjonalnych wyników kalibracji i profilowania, włączając najnowsze funkcje dla produkcji wideo. Program obejmuje także funkcje weryfikujące jakość wyświetlanych i drukowanych kolorów.
Spektrofotometr klasy przemysłowej
Wymagający użytkownicy mogą dodatkowo weryfikować jakość druku dzięki narzędziom Quality Assurance (QA) oraz próbkować kolory z dowolnej powierzchni. Nowe funkcje X-Rite i1Basic Pro 3 Plus argumentują zasadność aktualizacji posiadanego sprzętu lub inwestycję zwiększającą wydajność oraz dokładność pomiarów.
Nowy i1Basic Pro 3 jest dokładniejszy, bardziej uniwersalny i niezawodny w porównaniu do dostępnych na rynku urządzeń pomiarowych. To niezastąpione narzędzie dla wszystkich, dla których precyzyjny kolor ma fundamentalne znaczenie.
Specyfikacja oprogramowania X-Rite i1Profiler
Macintosh®
- MacOS X 10.12x, 10.13x and 10.14x z zainstalowanymi najnowszymi aktualizacjami, 512MB RAM (zalecane 2GB), Procesor Intel® Core Duo, Do 500MB wolnego miejsca na dysku (w zależności od zainstalowanych komponentów), Zasilany port USB, Rozdzielczość monitora 1024 x 768 pikseli lub wyższa, Obsługa dwóch monitorów wymaga 2 kart graficznych lub karty graficznej z dwoma wyjściami umożliwiającej współpracę z dwoma tablicami LUT, Napęd DVD lub szybkie łącze internetowe do zainstalowania oprogramowania i automatycznych aktualizacji, Użytkownik o uprawnieniach administratora (instalowanie i odinstalowanie aplikacji).
Windows®
- Microsoft® Windows 7® 32 lub 64 bit, Microsoft® Windows 8® 32 lub 64 bit, Microsoft® Windows 8.1® 32 lub 64 bit, Microsoft® Windows 10® 32 lub 64 bit, Najnowsze aktualizacje oraz zainstalowane wszystkie dodatki Service Packs, 512MB RAM (zalecane 2GB), Intel® Core 2 Duo lub AMD® Athlon® XP lub lepszy CPU, Do 500MB wolnego miejsca na dysku (w zależności od zainstalowanych komponentów), Zasilany port USB
- Rozdzielczość monitora 1024 x 768 pikseli lub wyższa, Zainstalowane najnowsze sterowniki karty graficznej, Obsługa dwóch monitorów wymaga 2 kart graficznych lub karty graficznej z dwoma wyjściami umożliwiającej współpracę z dwoma tablicami LUT, Zainstalowana karta sieciowa i sterowniki, Napęd DVD lub szybkie łącze internetowe do zainstalowania oprogramowania i automatycznych aktualizacji, Użytkownik o uprawnieniach administratora (instalowanie i odinstalowanie aplikacji).
WERSJE JĘZYKOWE
Produkt dostępny w następujących wersjach językowych:
- chiński (uproszczony), angielski, francuski, niemiecki, włoski, japoński, koreański, portugalski, hiszpański, rosyjski
Specyfikacja urządzenia X-Rite i1Basic Pro 3 Plus:
CHARAKTERYSTYKA SPEKTRALNA
- Technologia i1® z pomiarem długości fal
- Analiza spektralna: Holograficzna siatka dyfrakcyjna z matrycą diodową (128-pikseli)
- Zakres widma: 380 - 730 nm
- Odstępy próbkowania: 3.5 nm
- Rozdzielczość optyczna: 10 nm
- Próbkowanie spektralne: w zakresie 380 … 730 nm w odstępach co 10 nm
- Częstotliwość pomiaru w trybie skanowania: 400 pomiarów na sekundę
OPTYKA SPEKTROFOTOMETRU
- Geometria pomiaru: układ optyczny o zakresie pomiaru iluminacji 45°/0°, ISO 13655:2017
- Otwór pomiarowy: średnica 8 mm (efektywny otwór pomiarowy podczas skanowania zależy od rozmiaru próbki oraz szybkości pomiaru)
- Wielkość oświetlanej próbki: 12 mm
- Źródło światła: LED (włączając UV)
POMIAR REFLEKSYJNY
- Format danych: współczynnik odbić spektralnych [bezwymiarowy]
- Warunki pomiaru: M0 – filtr UV – ISO 13655:2017, M1 – D50 – ISO 13655:2017, M2 – bez filtra UV – ISO 13655:2017, M3 – polaryzacja – bez filtra UV – ISO 13655:2017
- OBC: Optical Brightener Compensation (kompensacja względem wybielaczy optycznych) w oprogramowaniu i1Profiler
- Kalibracja: Manualna na zewnętrznym ceramicznym wzorcu referencyjnym
- Tło pomiaru: białe, ISO 13655:2017; dla pomiarów z użyciem podkładki
- Maksymalna grubość podłoża: 3 mm (dla pomiarów z użyciem podkładki z zestawu)
- Minimalna wielkość próbki w trybie pomiaru punktowego 14 x 14 mm (szer. x wys.)
- Minimalna wielkość próbki w trybie skanowania: 16 x 16 mm (szer. x wys.) z i1iO
- 16 x 16 mm (szer. x wys.) dla i1iO
- 16 x 16 mm (szer. x wys.) z prowadnicą sensora
- 20 x 16 mm (szer. x wys.) bez prowadnicy sensora
- 20 x 16 mm (szer. x wys.) z prowadnicą sensora w trybie M3
- 22 x 16 mm (szer. x wys.) bez prowadnicy sensora w trybie M3
- Maksymalna długość skanu: 515 mm
- Tolerancja pomiarów: średnio 0.4 Δ E00*, 1.0 Δ E00* maks. (odchylenie od normy produkcyjnej X-Rite w temperaturze 23ºC (73.4ºF) dla 12 BCRA (D50, 2º))
- Powtarzalność pomiarów (krótkoterminowa): 0.1 Δ E00* dla bieli (D50,2°, próba 10 pomiarów, co 3 sekundy każdy) luminancja widmowa [mW/nm/m2/sr], luminancja [cd/m2]
POMIAR EMISJI
- Format danych: luminancja widmowa (mW/nm/m2 /sr); luminancja Y (cd/m2)
- Zakres pomiaru: 0.2 - 5000 cd/m2 dla typowych monitorów LCD
- Krótkoterminowa powtarzalność: x,y: +/- 0.002 typowa (5000°K, 80 cd/m2)
POMIAR OŚWIETLENIA ZEWNĘTRZNEGO
- Format danych: natężenie promieniowania [mW/nm/m2], natężenie światła [luks]
- Typ: korygowana kosinusowo głowica do pomiaru światła rozproszonego
INTERFEJS, WYMIARY I WAGA
- Interfejs: USB 1.1
- Zasilanie: Urządzenie zasilane za pomocą kabla USB. Dodatkowe baterie lub ładowarka nie są wymagane. Zasilany port USB 1.1
WARUNKI PRACY:
- Temperatura: 10–35°C
- Wilgotność: 0% – 80% (nieskondensowana)
WYMIARY
- Urządzenie i1Pro 3: dł. 162 mm, szer. 69 mm, wys. 64 mm
- Prowadnica i1Pro 3: dł. 591 mm, szer. 122 mm
- Stół pomiarowy i1: dł. 670 mm, szer. 452 mm
- Waga urządzenia i1Pro: 285 g
Zawartość zestawu X-RITE i1BASIC PRO 3 PLUS:
- Spektrofotometr i1Pro 3 (urządzenie pomiarowe), podkładka kalibracyjna, głowica do pomiaru oświetlenia zewnętrznego, filtr polaryzacyjny, uchwyt do kalibracji monitora, podkładka do pomiarów punktowych, prowadnica, podkładka pomiarowa, kabel USB, oprogramowanie i1Profiler dla monitorów, projektorów oraz walizka do przenoszenia i przechowywania.
Tylko zalogowani użytkownicy mogą dodać opinie. Moderujemy opinie. Wyświetlamy pozytywne i negatywne opinie.